IEC 62951-8 2023 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8 Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
文档预览
中文文档
18 页
50 下载
1000 浏览
10 评论
3 收藏
4.0分
温馨提示:本文档共18页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可直接付费下载原始文档
本文档由 路人甲 于 2025-01-24 16:45:07上传分享